關(guān)于高介電溫譜儀測量系統(tǒng)的基本知識和原理
- 發(fā)表時間:2024-04-15
- 來源:網(wǎng)絡(luò)
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高溫介電溫譜測量系統(tǒng)通過電極夾具測量平臺,可以測量單樣品和四樣品塊體材料;通過可密封的金屬屏蔽加熱系統(tǒng),可以實(shí)現(xiàn)更多的測量環(huán)境(如:惰性氣氛、氧化氣氛、還原氣氛、真空氣氛),以滿足科研多樣化的需求。
通過介電溫譜測量系統(tǒng),可以直接測量樣品的介電常數(shù)和介電損耗隨溫度、頻率、時間、偏壓等變化的曲線,可以測量阻抗和相位角隨溫度、頻率、偏壓、時間等變化的曲線,同時還可以測量壓電材料的機(jī)電耦合系數(shù)等。 廣泛應(yīng)用于高校科研院所和企業(yè)單位在電介質(zhì)陶瓷方面的研究。
了解原理和方法,讓測試更得心應(yīng)手
平行板法在ASTM D150標(biāo)準(zhǔn)中又稱為三端子法,其原理是通過在兩個電極之間插入一個材料或液體薄片組成一個電容器,然后測量其電容,根據(jù)測量結(jié)果計算介電常數(shù)。在實(shí)際測量裝置中,兩個電極配備在夾持介電測量的測試夾具上。介電溫譜測量系統(tǒng)將測量電容(C)和損耗(D)的矢量分量,然后由軟件程序計算出介電常數(shù)和損耗角正切。
評估材料介電性能通常采用平行板電容器原理,上下電極采用兩個平行板是理想情況,但實(shí)際上在制作樣品和測量過程中樣品與電極兩個平面不可能完全接觸,通常只是一個或多個點(diǎn)接觸,如果某個接觸點(diǎn)導(dǎo)電性能不好就容易導(dǎo)致測量不穩(wěn)定。為了避免以上現(xiàn)象,電溫譜儀上電極采用半球狀,下電極采用平面,該電極系統(tǒng)可以精確定位測量被測樣品某一點(diǎn),從而使系統(tǒng)的重復(fù)性和穩(wěn)定性更好。
強(qiáng)大精準(zhǔn)的介電測量軟件
可以直接測量樣品的介電常數(shù)和介電損壞隨溫度、時間、頻率變化的曲線,可以測量阻抗譜隨溫度、時間、頻率變化的曲線,同時得出Cole-Cole圖和壓電材料的機(jī)電耦合系數(shù)等。
1、介電常數(shù)和介電損耗
通過阻抗測量C和D值,軟件可以自動計算出介電常數(shù)和介電損耗隨溫度、時間、偏壓、頻率變化的曲線,還可以直接得出介電常數(shù)實(shí)部和虛部的比值。
2、阻抗譜及Cole-Cole圖
通過阻抗測量Z和φ 值,軟件可以自動計算出復(fù)阻抗隨溫度、時間、偏壓、頻率變化的曲線,還可以直接得出復(fù)阻抗Cole-Cole圖。
3、機(jī)電耦合系數(shù)Kp
通過阻抗測量Z和C值,以及不同溫度下的諧振頻率和反諧振頻率,再通過軟件自動計算出機(jī)電耦合系數(shù)隨溫度、時間、頻率變化的曲線,軟件可以直接得出機(jī)械品質(zhì)因數(shù)Qm。
關(guān)于介電常數(shù)及阻抗等參數(shù)選擇的儀器設(shè)備:
1、WK6500B系列
七種機(jī)型20Hz~5MHz,10MHz,15MHz,20MHz,30MHz,50MHz和120MHz,符合客戶不同采購預(yù)算
- 簡易的TFT觸屏操作,10分鐘內(nèi)輕易上手
- 電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案
- 30 ms超高速測試速度
- 等效Rdc 可高度精準(zhǔn)四線式測試,量測到0.01mΩ
- 0.05%基本精確度
- 可內(nèi)建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias
- 可將測試波形儲存成CSV格式,放大、縮小及MARKER功能
- 20Hz~120MHz,七種機(jī)型,可隨時升級 ,最高升級到120MHz
- 直覺的用戶操作接口,USB、LAN、GPIB及HANDLER
- 可使用鼠標(biāo)及鍵盤操控,也可外接打印機(jī)及使用USB接口儲存數(shù)據(jù)
- 具等效電路仿真功能,內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺
測試參數(shù):容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)(ε′ ?相對介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對介電常數(shù)虛部、Dε相對介電損耗)、磁導(dǎo)率(μ ′ ?相對磁導(dǎo)率實(shí)部、μ′′r 相對磁導(dǎo)率虛部、Dμ相對磁導(dǎo)率損耗)
2、WK6500P系列
本機(jī)種一共有七種機(jī)型,分別是20Hz~5MHz, 20Hz~10MHz, 20Hz~15MHz, 20Hz~20MHz, 20Hz~30MHz, 20Hz~50MHz, 20Hz~120MHz, +/-0.05%準(zhǔn)確度。
在生產(chǎn)線的高頻量測中,此機(jī)種為目前全球測試最準(zhǔn)確,測試頻率最高的機(jī)種。
- 0.05%基本精確度,頻率分辨率≤1mHz
- 簡易的TFT觸屏操作,10分鐘內(nèi)輕易上手
- 電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案
<30 mS 自動化測量可結(jié)合測包機(jī)測試 - 高頻四線式技術(shù),可測量極低Rs、等效Rdc和高Q值
內(nèi)置交流信號:10mV ~ 1Vrms,200μA~20mArms。直流內(nèi)置偏置信號:0~ 100mA/0~ +40V或-40V~ +40V(選配)。可外加WK6565高頻直流偏置電流源到40Amp - 四種模式統(tǒng)一操作界面,Hander連接自動化分選設(shè)備,LAN、GPIB電腦聯(lián)機(jī)軟件通信接口
- 可使用鼠標(biāo)及鍵盤操作,也可外接列表打印機(jī)及使用U盤保存數(shù)據(jù),測試圖像
- 英國設(shè)計,接受軟硬件升級及定制化需求
測試參數(shù):電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)(ε′ ?相對介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對介電常數(shù)虛部、Dε相對介電損耗)、磁導(dǎo)率(μ ′ ?相對磁導(dǎo)率實(shí)部、μ′′r 相對磁導(dǎo)率虛部、Dμ相對磁導(dǎo)率損耗)
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GLRT-600型高低溫探針臺
GLRT-600型高低溫探針臺 產(chǎn)品簡介GLRT-600型高低溫探針臺根據(jù)制冷方式分為液氮制冷和GM制冷機(jī)兩種,溫度范圍從-260℃度到600℃C可控。產(chǎn)品兼容低至1pA的直流信號,50GHz的高頻 -
BLRT-600型背面探針型冷熱臺
BLRT-600型背面探針型冷熱臺 簡要描述:適合電極在樣品背面的情況,探針可耐受高低溫環(huán)境重復(fù)使用。上部觀察窗口離樣品距離較遠(yuǎn),不需要進(jìn)行氣體吹掃來防止窗口表面結(jié)露。提供外部接線盒,用于信號切換,結(jié) -
ZLRT-600型正面探針型冷熱臺
ZLRT-600型正面探針型冷熱臺 簡要描述:適合測試探針需要接觸到樣品正面的情況,測試探針可前后伸縮和自由轉(zhuǎn)動,因此使用起來靈活方便。根據(jù)探針和樣品的接觸狀況,可選擇不同材質(zhì)和觸點(diǎn)形狀的探針。配套: -
CLRT-1200正面探針型超高溫冷熱臺
CLRT-1200正面探針型超高溫冷熱臺 簡要描述:采用高溫加熱元件,可以在1200℃下長期穩(wěn)定使用;采用高溫陶瓷固定探針臂,保證高溫下探針穩(wěn)定可靠;可增加一路溫度信號,用于和其它測試軟件結(jié)合;
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